Medición simultánea en dos dimensiones por interferometría holográfica digital utilizando dos láseres y una cámara 3CCD

Autores: Saucedo Anaya Tonatiuh, Puch Ceballos Felipe

Resumen

Se presenta un arreglo en Interferometría Holográfica Digital (IHD) para medir simultáneamente en 2D micro deformaciones en la superficie de objetos ópticamente rugosos. En el arreglo se usa una cámara 3CCD color y dos fuentes de luz láser de 458nm y 633nm que permite grabar simultáneamente dos hologramas digitales. El arreglo se prueba en una placa metálica la cual es microscópicamente deformada al ser calentada ligeramente por un cautín. Los resultados experimentales muestran el potencial metrológico del sistema para caracterizar cantidades mecánicas en la estructura del objeto.

Palabras clave: Interferometría holográfica digital metrología micro deformación caracterización mecánica.

2013-12-11   |   1,025 visitas   |   Evalua este artículo 0 valoraciones

Vol. 6 Núm.1. Noviembre 2013 Pags. 67-80 Nova Scientia 2013; 6(1)