El panorama de simetría

Una opción para el diagnóstico 

Autor: Correa Mozo Belkis

Fragmento

Cuando en Noviembre de 1895 Wichelm Konrad Roentgen, profesor de Física de la Universidad de Wurzburgu, Baviera, realizaba sus experimentos con un tubo de Crookes (descarga eléctrica en el vacío), en busca de rayos lumínicos invisibles, tuvo la idea de operar en una cámara oscura y de cubrir el tubo con papel negro. Al pasar por éste, la corriente de alta tensión, se produjo un resplandor inmediato en la pantalla fluorescente de platinocianuro de bario que se encontraba sobre la mesa, a cierta distancia del tubo. Al interponer objetos entre éste y la pantalla, se proyectaron sombras sobre esta última. La experimentación posterior con tales radiaciones, le permitió comprobar que afectaban una emulsión fotográfica del mismo modo que la luz visible. De numerosos experimentos dedujo que esta variación era muy diferente de los rayos catódicos de Crookes y al no precisar la naturaleza exacta los denominó Rx o incógnito. A partir de ese momento se puso en manos de los profesionales de la salud, un excelente medio auxiliar de diagnóstico, siendo el doctor Edmund Kells el primer odontólogo que abogó por la utilización de Rayos X en la práctica odontológica 1896.Con el decursar del tiempo y con el desarrollo científico, fueron diseñadas diferentes películas técnicas radiográficas intra y extraorales con objetivos diagnósticos bien definidos y de gran utilidad en la práctica clínica. Dentro de las radiografías extraorales de gran utilidad en la Estomatología se encuentran las telerradiografías y las radiografías panorámicas que, sobre todo en la especialidad de Ortodoncia, han demostrado ser un gran auxiliar de diagnóstico. A partir de la década de los 80 ha sido propuesto un anális de la radiografía panorámica por la doctora Wilma A. Simoes , denominado panorograma de simetría utilizado para el análisis de simetría y que consiste en reunir información detallada de ambas mitades de la radiografía panorámica y compararlas entre sí con la finalidad de reconocer la simetría o asimetría de las estructuras del tercio medio e inferior de la cara. Para el análisis de simetría se utilizan puntos de referencias que unidos determinan planos y líneas que constituyen los sistemas de referencias o planos básicos relacionados entre sí y utilizan el sistema ortogonal o sea, aquel cuyos planos básicos son perpendiculares entre sí y el sistema complementario a partir de perpendiculares trazadas sobre el sistema ortogonal.

Palabras clave: Estomatología radiografías panorámicas telerradiografías.

2003-02-15   |   4,602 visitas   |   Evalua este artículo 0 valoraciones

Vol. 14 Núm.1. Enero-Junio 1999 Pags. 05-06. Rev Cubana Ortod 1999; 14(1)