Resumen

El microscopio electrónico de barrido (MEB) permite la observación y caracterización de materiales heterogéneos orgánicos e inorgánicos, tiene integrado un sistema de microanálisis por espectroscopía de dispersión de energía (EDE) que se utiliza para realizar análisis químicos cualitativos y cuantitativos. Objetivo: Observar topográficamente el esmalte dental subsuperficial tratado con dos compuestos fluorados y determinar las cantidades y proporciones químicas de este elemento. Método: 15 molares fueron extraídos por indicación ortodóncica y seccionados longitudinalmente en sentido mesio-distal. Aleatoriamente se distribuyeron en dos grupos: Fluoruro Fosfato Acidulado (FFA) y Fluoruro de Plata Amoniacal (FPA). Las muestras estuvieron inmersas en soluciones desmineralizantes y remineralizantes (pH cíclico) durante 5 días y después se realizó un corte longitudinal para obtener la subsuperficie del esmalte. Las muestras fueron observadas en el MEB (JEOL JSM-5600LV, Japan), para determinar la observación topográfica y el microanálisis por EDE a 50, 100, 150mm de la superficie externa del esmalte hacia la unión amelo-dentinaria. Resultados: En el grupo tratado con FFA en las diferentes profundidades se obtuvo 0.00% del elemento F-. El grupo tratado con FPA a 0mm obtuvo 0.01% del elemento F-; sin embargo, a 100 y 150mm obtuvo valores de 0.00% del ión F-. Conclusiones: Se determinó que no hubo diferencias porcentuales en ninguno de los grupos tratados con compuestos fluorados ya que en ninguno se obtuvo un valor positivo del elemento F-.

Palabras clave: Esmalte remineralización desmineralización compuestos fluorados MEB EDE.

2013-08-27   |   669 visitas   |   Evalua este artículo 0 valoraciones

Vol. 10 Núm.123. Julio 2013 Pags. 20-24 Odont Act 2013; 10(123)